光泵浦太赫兹探测系统 太赫兹时间分辨系统 OPTP

光泵浦太赫兹探测系统 太赫兹时间分辨系统 OPTP

产品简介                >>光泵浦太赫兹探测实验系统原理(OPTP)

       光泵浦太赫兹探测 (OPTP) 技术是一种用于研究半导体超快载流子动力学的方法。THz 有光子能量低的特性,它对半导体中载流子的变化和分布将会十分敏感, 因此 THz 很适合被用做探测光来研究半导体中超快载流子的动力学过程。当激光激发半导体材料时,材料中被激发的电子和空穴会占据一些能态,进而太赫兹的透过率就会减少,随着载流子的复合,太赫兹的透过率也会慢慢升高。 这样便可以通过对 THz 瞬态透射谱的研究获得半导体中非平衡载流子的动力学过程。

光泵浦太赫兹探测系统 太赫兹时间分辨系统 OPTP(图1)

光泵浦太赫兹探测光路原理图

      经过优化后的太赫兹时域光谱光路结构,增强了系统稳定性,很好的消除光路中的色差,得到更好的太赫兹光斑聚焦效果。在保证系统高信噪比的同时,我们也保证系统的测量稳定性和可重复性,为后续的光泵浦-太赫兹探测奠定了坚实的基础。更多的需求可以根据客户需求选择升级,例如 800 纳米和 400纳米的光学泵浦。特别指出的是,如果飞秒激光器配备了光学参量放大器系统,我们可以集成其输出光作为光泵浦源,将系统光泵浦能力拓展至紫外-可见-近红外波段,由此显著增强系统的测试能力。与此同时我们也可以协助客户集成温控系统,集成电磁场,集成样品扫描成像等选项。

光泵浦太赫兹探测系统典型光谱(频谱和时间分辨谱)


光泵浦太赫兹探测系统 太赫兹时间分辨系统 OPTP(图2)

光泵浦太赫兹探测系统 太赫兹时间分辨系统 OPTP(图3)

光泵浦太赫兹探测系统 太赫兹时间分辨系统 OPTP(图2)

Cd3As2薄膜时间分辨谱测量

技术参数

太赫兹发射器

ZnTe晶体

太赫兹探测器                           

基于ZnTe晶体的自由空间电光采样系统                 

光谱范围

0.05-3 THz

动态范围

≥65dB

泵浦光

800 nm 或 400 nm (OPA 泵浦可选)


激光器要求

光泵浦太赫兹探测系统一般要求飞秒光源为放大级出光,Ti:Sapphire, Regenerative amplifier

脉冲宽度                           100 fs
重复频率1000 Hz                                                                
单脉冲能量> 1mJ
中心波长~800nm


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